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半导体器件.机械和气候试验方法.稳态温度湿度偏差寿命试验

标准编号
BS EN 60749-5-2003
中图分类号
L40
ICS分类号
31_080_01
发布单位
英国标准学会(BSI)
状态
现行
标准类别
国际标准
发布日期
2003-06-18
实施日期
2003-06-18