你好
,欢迎来到试验技术专业知识服务系统
平台首页
中国工程院
中国工程科技知识中心
切换导航
首页
专题服务
认证认可
应急专栏
标准物质
仪器仪表
汽车
增材制造
专业工具服务
临界差在线计算
质控图在线生成
稳健统计
F检验
t检验
尧敦图
不确定度在线计算
资源服务
检测实验室服务能力查询
校准实验室服务能力查询
检测机构需求VS能力验证服务工具
实验室仪器对比查询
能力验证服务一览表和查询服务
优质检测机构Top10
试验人员能力查询
CSTM质量评价结果发布平台
数据分析可视化
试验方法对比
机构能力变化趋势分析
机构间技术能力对比
标准适用性对比
实验室综合能力评价
产品质量检测技术能力评价
行业资讯
登录 / 注册
微电子束分析.扫描电子显微镜.图像放大校准指南
标准编号
BS ISO 16700-2004
中图分类号
N33
ICS分类号
37_020
发布单位
英国标准学会(BSI)
状态
现行
标准类别
国际标准
发布日期
2004-09-29
实施日期
2004-09-29
相似标准
微电子束分析.扫描电子显微镜.校准图像放大指南
(NF X21-005-2006)
微光束分析.分析透射电子显微镜法.利用具有周期性结构的标准物质进行标定图像放大的方法
(BS ISO 29301-2010)
微光束分析.扫描电子显微镜方法.词汇
(BS ISO 22493-2008)
微电子束分析.电子探测微观分析.用波长色散X射线光谱测定法定性点分析指南
(BS ISO 17470-2004)
微光束分析.解析电子显微测定法.透射式电子显微镜对选定区域进行电子衍射分析
(BS ISO 25498-2010)
金属镀层.镀层厚度测量.扫描电子显微镜法
(BS EN ISO 9220-1989)
环境空气.无机纤维颗粒的数值浓度的测定.扫描电子显微镜检查法
(BS ISO 14966-2002)
微束分析 扫描电子显微术 生物试样扫描电子显微镜分析方法
(GB/T 33834-2017)
微光束分析.扫描电子显微镜法.校准图像放大指南
(JIS K0149-1-2008)
微光束分析.分析的透射电子显微镜法.具有周期性结构的基准物质校准图像放大的方法
(ISO 29301-2010)
×
我的收藏-提示信息
已有收藏
:
新增
: