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通过灰度级测量光导纤维的覆层几何尺寸
标准编号
ANSI/TIA/EIA 455-119-1997
中图分类号
M33
ICS分类号
33_180_10
发布单位
美国国家标准学会(ANSI)
状态
作废
标准类别
国际标准
发布日期
1997-01-01
相似标准
光导纤维带剩余扭力应变的测量
(ANSI/TIA/EIA 455-131-1997)
利用自动灰度梯尺测量光纤截面几何尺寸的方法
(ANSI/TIA/EIA 455-176-A-2003)
用光纤侧面观测法的覆层几何形状测量
(ANSI/EIA/TIA-455-173-1990)
用于光纤侧面检查法的覆层几何学测量
(ANSI/TIA/EIA 455-173-1990)
通过自动灰度分析法测量光纤横截面几何尺寸的方法
(ANSI/TIA/EIA 455-176-1993)
评价光导纤维和光缆的抗菌能力
(ANSI/TIA/EIA 455-56B-1995)
光导纤维的浸液试验
(ANSI/TIA/EIA 455-75A-1996)
用光纤侧面观测法测量涂层几何尺寸
(ANSI/EIA/TIA 455-173-1990)
机械法去除光纤覆层所需剥离力的测量
(ANSI/TIA/EIA 455-178A-1996)
光纤包覆层直径的激光类仪器测量
(ANSI/EIA/TIA 455-48B-1990)
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