你好
,欢迎来到试验技术专业知识服务系统
平台首页
中国工程院
中国工程科技知识中心
切换导航
首页
专题服务
认证认可
应急专栏
标准物质
仪器仪表
汽车
增材制造
专业工具服务
临界差在线计算
质控图在线生成
稳健统计
F检验
t检验
尧敦图
不确定度在线计算
资源服务
检测实验室服务能力查询
校准实验室服务能力查询
检测机构需求VS能力验证服务工具
实验室仪器对比查询
能力验证服务一览表和查询服务
优质检测机构Top10
试验人员能力查询
CSTM质量评价结果发布平台
数据分析可视化
试验方法对比
机构能力变化趋势分析
机构间技术能力对比
标准适用性对比
实验室综合能力评价
产品质量检测技术能力评价
行业资讯
登录 / 注册
非本征半导体材料导电类型测试方法
标准编号
GB/T 1550-2018
中图分类号
H21
ICS分类号
77.040
发布单位
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
状态
现行有效
标准类别
国家标准
发布日期
2018-12-28
实施日期
2019-11-01
摘要
本标准规定了非本征半导体材料导电类型的测试方法。
应用范围
本标准适用于硅、锗非本征半导体材料导电类型的测试,其他非本征半导体材料可参照本标准测试。本标准方法能保证对均匀的同一导电类型的材料测得可靠结果;对于导电类型不均匀的材料,可在其表面上测出不同导电类型区域。 本标准不适用于分层结构材料(如外延片)导电类型的测试。
附件详情
0
正在生成预览,如果页面较多可能花费较长时间,请耐心等待...
相似标准
非本征半导体材料导电类型测试方法
(GB/T 1550-1997)
纳米技术 半导体纳米粉体材料紫外-可见漫反射光谱的测试方法
(GB/T 37131-2018)
半导体发光二极管光辐射安全 第2部分:测试方法
(GB/T 39771.2-2021)
硅片和硅锭载流子复合寿命的测试 非接触微波反射光电导衰减法
(GB/T 26068-2018)
有机分离膜抗菌性能测试方法
(GB/T 37206-2018)
颗粒材料 物理性能测试 第2部分:振实密度的测量
(GB/T 31057.2-2018)
颗粒材料 物理性能测试 第3部分:流动性指数的测量
(GB/T 31057.3-2018)
镍钴锰酸锂电化学性能测试 放电平台容量比率及循环寿命测试方法
(GB/T 37207-2018)
增材制造 主要特征和测试方法 零件和粉末原材料
(GB/T 35022-2018)
偏置电场下材料热释电系数测试方法
(GB/T 37255-2018)
×
我的收藏-提示信息
已有收藏
:
新增
: