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表面化学分析 原子力显微术 二硫化钼片层材料厚度测量方法

标准编号
GB/T 40128-2021
中图分类号
G04
ICS分类号
71.040.40
发布单位
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
状态
现行有效
标准类别
国家标准
发布日期
2021-05-21
实施日期
2021-12-01
摘要
本文件规定了利用原子力显微术测量层状二硫化钼纳米片厚度的测量方法。
应用范围
本文件适用于转移或生长在固体衬底表面的层状二硫化钼纳米片厚度的测量,测量范围从单层二硫化钼纳米片至厚度不大于100nm，其他类似的纳米片层材料厚度测量也可参照此方法进行。
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