你好
,欢迎来到试验技术专业知识服务系统
平台首页
中国工程院
中国工程科技知识中心
切换导航
首页
专题服务
认证认可
应急专栏
标准物质
仪器仪表
汽车
增材制造
专业工具服务
临界差在线计算
质控图在线生成
稳健统计
F检验
t检验
尧敦图
不确定度在线计算
资源服务
检测实验室服务能力查询
校准实验室服务能力查询
检测机构需求VS能力验证服务工具
实验室仪器对比查询
能力验证服务一览表和查询服务
优质检测机构Top10
试验人员能力查询
CSTM质量评价结果发布平台
数据分析可视化
试验方法对比
机构能力变化趋势分析
机构间技术能力对比
标准适用性对比
实验室综合能力评价
产品质量检测技术能力评价
行业资讯
登录 / 注册
非本征半导体材料导电类型测试方法
标准编号
GB/T 1550-1997
中图分类号
H21
ICS分类号
77.040.01
发布单位
国家标准化管理委员会
状态
现行
标准类别
国家标准
发布日期
1997-01-02
实施日期
1997-01-02
相似标准
非本征半导体材料导电类型测试方法
(GB/T 1550-2018)
半导体单晶晶向测定方法
(GB/T 1555-1997)
纳米技术 半导体纳米粉体材料紫外-可见漫反射光谱的测试方法
(GB/T 37131-2018)
半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测试方法 非接触涡流法
(GB/T 6616-2009)
带电粒子半导体探测器测试方法
(GB/T 5201-1994)
半导体材料牌号表示方法
(GB/T 14844-1993)
半导体材料术语
(GB/T 14264-2009)
半导体发光二极管光辐射安全 第2部分:测试方法
(GB/T 39771.2-2021)
半导体材料切削液
(GB/T 31469-2015)
半导体材料术语
(GB/T 14264-1993)
×
我的收藏-提示信息
已有收藏
:
新增
: