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硅单晶寿命直流光电导衰退测量方法
标准编号
GB 1553-1979
中图分类号
H21
状态
作废
标准类别
国家标准
实施日期
1980-01-01
相似标准
锗单晶少数载流子寿命直流光电导衰退测量方法
(GB 5257-1985)
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(DIN 50440-1998)
半导体工艺材料的检验.用光电导法测量硅单晶中复合载流子寿命.在方形试样上测量
(DIN 50440-1-1981)
半导体工艺材料的检验.用光电导法测量硅单晶中复合载流子寿命.在方形试样上测量
(DIN 50440 T.1-1981)
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