唯一标识（ISBN）

9787122279590

作者

高新华；宋武元；邓赛文；胡坚

摘要

本书是现代X射线光谱分析综合性参考书。全书共分十七章，系统介绍X射线的物理基础，基本性质，激发，色散，探测与测量，波长色散与能量色散光谱仪，基体效应，光谱背景和谱线重叠，样品制备，定性与半定量分析，实验校正法，数学校正法定量分析，薄膜和镀层厚度分析，应用实例及分析误差与不确定度等内容。附录列举了X射线荧光光谱分析常用的物理常数，相关数据等，供读者参考使用。本书适用于冶金，地质，矿山，建材，检验检疫，石油，化工，环境，农业，生物，食品，医药，文物及考古等部门从事X射线光谱分析的专业人员及相关工程技术人员参考，同时适用于高等院校相关专业师生，研究生及科研院所工程技术人员参考。

出版商

化学工业出版社

出版地

北京

出版日期

2017-02-01

定价

128

开本

16开